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时间:2024/7/26 阅读:314 关键词:MOS场效应管
原因:VCC_3G并联一个1000uf电容,初步判断是mos管开启瞬间充电电流引起。减小容值有比较小的改善,直接去掉后电压才不会跌落,但是这个储能电容又不能去掉。
解决方案
解决这个问题的关键,就在于降低大容量电容的充电速度。
1.在1000uF与PMOS管之间串联电阻或者在电容上面串联电阻;
2. 在PMOS管之前增加串联电阻;
2.降低PMOS管的开通速度,包括在GS间并联电容或者在GD间并联电容;
3.在PMOS管与电容之间串联电阻或者在电容上面串联电阻 这种方法,其实就是降低电容的充电电流,从而减小前级电源电压的跌落。
在PMOS场效应管与电容之间串联电阻或者在电容上面 不管哪种,串联电阻均能够降低电容的充电速度,但是也相应的降低负载驱动能力。
在PMOS场效应管之前增加串联电阻,其实和上面的方法大同小异,其本质都是降低前级电源对电容的充电电流。