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  • 场效应管MOS管半导体结构原理及开启过程

       时间:2020/6/9       阅读:4504    关键词:MOS管

     

    场效应管MOS半导体结构

    场效应管MOS管是半导体电子元器件,原始材料+掺杂半导体形成的PN型物质,如下图所示:

     

    半导体工艺MOS管的制作过程,如下图所示:

    MOS管立体结构

     

     

    MOS管符号表达

     

     

     

    场效应管MOS工作原理

    以增强型 MOS

    PN2背靠背利用电场在栅极形成载流子沟道来连接DS

     

    启动电压不足:

    N衬底P载流子自然复合形成中性耗尽区栅极得正向电压,P少子在电场作用下聚集到栅极氧化硅下形成电子多子区域,即称之为反型层(P型衬底区形成N型沟道区),此时DS导通。

     

     

     

    MOS开启模拟电路图

     


    电流Id电流Id,开启电压=1.65V

     

     

    场效应管MOS管如何开启

     

     

     Vgs > VthVds

    Vgs=常数,Vds升高Id近似线性升,电阻特性

    Vds=常数,Vgs升高Id近似线性升高,压控电阻特性。

    即曲线左边

     

    Vds控制MOS管沟道

    Vgs > VthVds

    Vds > Vgs-Vth

    DS间电场开始导致右侧沟道变窄电阻电流Id增加缓慢

    Vds不断增加到一定值后,即右沟道被夹断

     

     

     

    1. S间电压分布在靠近D端夹断耗尽区夹断区增大沟道宽度W减小致电阻增大抵消了VdsId正向作用,致电流Id不随Vds增加而变化

    D端载流子在强电场作用下扫过耗尽区达到S

     

     

    MOS 管的恒流区饱和区放大区沟道调制效应沟道长度L变化,曲线上翘

     

     

     

    为什么会击穿

    Vgs 过大导致

    1.栅极薄氧化层被击穿损坏。

    2.D和衬底间反向PN结雪崩击穿,大电流直接流入衬底。

     

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